专业光学检测技术解析与测量方法对比
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系统波像差是指平行光管出射波前与理想平面波之间的偏差,反映了整个光学系统的综合性能。
"平行光管的系统波像差"定义:
当一个无限小的理想点光源(或分划板上的一个理想亮点)位于平行光管物镜的理想焦平面时,它发出的光线经物镜后应形成完美的平面波。而"系统波像差"就是指实际出射的波前与这个理想平面波之间的偏差。
这个偏差综合反映了物镜的设计残余像差、玻璃材料不均匀性、加工瑕疵、装调应力以及分划板的定位误差等多种因素。
关键理解点:
最常用、最精确的测量方法,实验室和高端制造中的黄金标准
适用于动态或强振动环境下的测量
快速定性评估的几何光学方法
利用激光干涉的原理,将一个已知面形精度极高的参考平面镜提供的理想参考波前,与平行光管出射的待测波前进行叠加。通过分析产生的干涉条纹,可以精确计算出待测波前的形状和像差。
继续精细调整,直到出现均匀背景(无限宽条纹),表明出射波前与参考波前完全匹配。
泽尼克系数对应像差类型:
PV值
波前峰谷值的最大差值,反映最大偏差。
RMS值
波前误差的均方根值,更能代表整体成像质量,是更重要的指标。
波前传感器由一个微透镜阵列和位于其焦平面上的CCD/CMOS相机组成。每个微透镜将其通光口径内的局部波前汇聚成一个光斑。如果波前是理想平面波,所有光斑将形成规则的点阵;如果波前有畸变,光斑就会偏离其理论中心位置。通过测量所有光斑的偏移量,即可重构出整个波前的形状。
技术特点:
无需参考镜,对环境振动的敏感性较低,操作更快捷,但绝对精度通常略低于高质量的相移干涉仪。
利用一个高质量的自准直光学平面镜,将平行光管发出的光束反射回自身。在平行光管的焦平面上观察这个返回的"点"的像,其弥散斑的形状和大小直接反映了系统的像差。
清晰锐利
波像差很小
圆形弥散斑
可能存在显著球差
彗星状拖尾
存在彗差
旋转时像点变化
存在像散
| 方法 | 原理 | 优点 | 缺点 | 适用场景 |
|---|---|---|---|---|
| 激光干涉仪法 | 波前干涉 | 精度最高,完整波前图,定量泽尼克系数 | 对环境和振动敏感,设备昂贵,操作复杂 | 实验室级高精度检测、系统标定、验收 |
| 夏克-哈特曼法 | 子孔径光斑偏移 | 抗振性好,速度快,可测连续波前 | 空间分辨率受限,绝对精度稍逊 | 在线检测、主动光学、环境较差的情况 |
| 自准直法 | 几何光学成像 | 设备简单,成本低,操作直观快速 | 主观性强,精度低,难以定量 | 现场快速检查、系统粗调、教学演示 |
对于绝大多数追求精度的应用场景,推荐使用激光干涉仪法,它是测量透射式平行光管系统波像差的黄金标准。
对于绝大多数追求精度的科研和工业应用,激光干涉仪法是测量平行光管系统波像差的首选和最权威的方法。
| 特性 | 激光干涉仪法 | 夏克-哈特曼法 | 自准直法 |
|---|---|---|---|
| 原理 | 波前干涉 | 子孔径光斑偏移 | 几何光学成像 |
| 精度 | 最高 | 高 | 较低(定性) |
| 速度 | 较慢 | 极快(实时) | 快 |
| 抗振动性 | 弱(需隔振) | 强 | 中等 |
| 定量能力 | 是,提供完整波前数据 | 是,提供完整波前数据 | 否,主要为定性判断 |
| 主要用途 | 高精度检测、系统标定、验收 | 在线检测、主动光学、环境较差场合 | 现场快速检查、系统粗调、教学 |
使用干涉仪法时,测量结果的精度上限取决于参考平晶的精度。它必须是"λ/20"或更高等级的。
任何测量的第一步都是精确的光轴对准,否则会引入巨大的倾斜和离焦像差。
温度梯度、气流和振动是波前测量的大敌,必须设法消除或减弱。
得到的波像差是整个平行光管系统的误差,包括物镜设计残差、加工装配应力和分划板定位误差。